seaward介電耐壓VS介電擊穿測試——Hal係列綜合電器安規測試儀

seaward介電耐壓VS介電擊穿測試——Hal係列綜合電器安規測試儀(yi)

SEAWARD綜合電器安規測試儀(yi) Hal係列

高壓測試（Hipot）測試是⼀個(ge) ⾮常通⽤的測試，可⽤於(yu) 許多應⽤，從(cong) 研發和形式檢測，再到產(chan) 品下線檢測，甚⾄在維修後都會(hui) 應用。

在本⽂中，我們(men) 研究了兩(liang) 種最常⻅的Hipot測試類型，介電耐壓測試和介電擊穿測試之間的區別。原則上，這兩(liang) 種測試在應⽤於(yu) 待測設備（DUT）時⼏乎相同，但測試結果往往不同。⾼壓測試通常涉及兩(liang) 個(ge) 測試端⼦，⼀個(ge) 電壓源輸出和⼀個(ge) 泄漏電流流⼊的返回端⼦，並由測試設備測量。

耐壓測試
耐壓測試是最常⻅的Hipot測試類型。它主要是對被測物施加規定的電壓，通常在1000V或更⾼的範圍。

測試（輸出）電壓按照規定保持一段時間，按照不同的測試目的，時間要求也有所區別，形式檢測可能需要幾分鍾，而常規的生產(chan) 檢測可能低至幾秒鍾。

通常，測試的成功結果將根據返回終端檢測到的電流流量來確定。如果電流流量過多（泄漏電流），測試將作為(wei) 失敗中⽌。

SEAWARD綜合電器安規測試儀(yi) Hal係列

電流流量的⼤⼩通常以毫安為(wei) 單位測量，並設置電流閾值，以確定測試是否已通過。同樣，取決(jue) 於(yu) 應⽤程序，此值可能會(hui) 有所不同。對於(yu) 類型測試場景，在100mA區域內(nei) 的限製是相當常⻅的，在這些場景中，測試是在更受控的實驗室類型環境中進⾏的。在⽣產(chan) 線上進⾏測試時，這些限製通常要低得多，以確保測試操作員的安全，通常5mA以內(nei) 是可以接受的。這種類型的測試通常不是破壞性的，除⾮設備中已經存在故障，因此它是⽣產(chan) 環節中是非常常⻅的測試。但是作為(wei) 測試時間更長的形式測試，可能會(hui) 削弱絕緣材料的完整性。因此，形式測試的產(chan) 品通常被認為(wei) 不適合銷售。

介電擊穿測試
介質故障測試以與(yu) 上述相同的⽅式進⾏，區別在於(yu) ，它沒有規定最⼤電壓，通常也沒有規定測試時間。
而是電壓逐漸增加，直到被測試產(chan) 品的絕緣體(ti) ⽆法再承受電壓並發生擊穿擊穿。這種電壓是絕緣體(ti) 變得導電的點。

SEAWARD綜合電器安規測試儀(yi) Hal係列

在這種情況下，關(guan) 鍵參數是擊穿點的電壓。

如上所述，該測試的性質可以被視為(wei) 具有破壞性，⽬的是迫使DUT達到擊穿點。因此，這種類型的測試僅(jin) 在研發環境中進⾏，不適⽤於(yu) 常規測試，因為(wei) 它會(hui) 使設備處於(yu) 不安全狀態。

結論
可以看出，這兩(liang) 種測試⽅法在確定產(chan) 品的整體(ti) 安全性⽅⾯都有一席之地，它們(men) 的區別主要是在於(yu) 測試的目的。明白這一點後，我們(men) 就能知道，為(wei) 什麽(me) 介電擊穿測試僅(jin) 用於(yu) 研發階段，而介電耐壓測試廣泛的應用於(yu) 生產(chan) 階段。