電致發光測試係統，電致發光測試儀特點

    電致發光/光致發光測量係統是專(zhuan) 業(ye) 為(wei) 發光材料發光光譜測量設計的電致發光/光致發光測試儀(yi) 器,適合測量LED與(yu) 發光材料發光特性和發光效率,並對發光元件特性優(you) 劣分析。

    電致發光/光致發光測量係統采用4''PTFE高反射率積分球收集LED各角度發光,可能測量LED和發光材料。電致發光測試儀(yi) 係統特點：針對新型電致發光材料設計、快速超低亮度0.1cd/m2測量能力；LED老化測量功能；外部量子效率測試；可與(yu) 手套箱整合；具備NIR波段(700-1000nm)測試能力；LED全參數測定能力。

    采用PTFE積分球測量係統：產(chan) 業(ye) 化LED的標準；準確測量輻射光通量(１m)與(yu) 功率(W)；LEDEQE低亮度測量能力可<0.1cd/m2；智能調變光譜儀(yi) 曝光時間，提升測試速度；多種LEDEQE測試夾具。

    電致發光缺陷檢測儀(yi) 空間分辨力測試板,所述空間分辨力測試板上分布有複數個(ge) 檢測方塊組,每一所述檢測方塊組包括複數個(ge) 具有不同線對條紋寬度的檢測方塊,每一所述檢測方塊由複數個(ge) 黑白間隔的線對條紋組成,不同所述檢測方塊組內(nei) 線對條紋的方向不同,同一所述檢測方塊組內(nei) 線對條紋的方向相同,每一個(ge) 線對條紋內(nei) 黑白條紋的寬度一樣,所述空間分辨力測試板具有近紅外光可穿透性。